BS IEC 60747-1-2006 半导体器件.总则

作者:标准资料网时间:2024-05-04 04:01:11 浏览:9828 来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-General
【原文标准名称】:半导体器件.总则
【标准号】:BSIEC60747-1-2006
【标准状态】:作废
【国别】:英国
【发布日期】:2006-06-30
【实施或试行日期】:2006-06-30
【发布单位】:英国标准学会(GB-BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:色码;组件;连接;定义;分立器件;电气工程;电子工程;电子设备及元件;图形符号;搬运;检验;集成电路;布置;寿命;极限(数学);作标记;标记;测量;测量技术;额定值;基准方法;可靠度;半导体器件;半导体;标志;规范(验收);符号;试验;警告符号
【英文主题词】:Colourcodes;Components;Connections;Definition;Definitions;Discretedevices;Electricalengineering;Electronicengineering;Electronicequipmentandcomponents;Graphicsymbols;Handling;Inspection;Integratedcircuits;Layout;Life(durability);Limits(mathematics);Marking;Marks;Measurement;Measuringtechniques;Ratings;Referencemethods;Reliability;Semiconductordevices;Semiconductors;Signs;Specification(approval);Symbols;Testing;Warningsymbols
【摘要】:ThispartofIEC60747givesthegeneralrequirementsapplicabletothediscretesemiconductordevicesandintegratedcircuitscoveredbytheotherpartsofIEC60747andIEC60748(seeAnnexA).
【中国标准分类号】:L56
【国际标准分类号】:31_200
【页数】:46P.;A4
【正文语种】:英语

下载地址: 点击此处下载

返回跳至顶部

上一篇: BS EN 55022-2006 信息技术设备.无线电干扰特性.测量极限和方法
下一篇: BS EN 61326-2-2-2006 测量、控制和实验室用电气设备.电磁兼容性(EMC)的要求.特殊要求.用于低压分布系统的移动式试验、测量和监测设备用试验配置、操作条件和性能标准